Принцип
Основа кристалографије: техника повратне дифракције електрона (ЕБСД) заснована је на Браговом принципу дифракције кристалних равни. Атоми у кристалу су правилно распоређени. Када електронски сноп озрачи површину кристала, појавиће се феномен дифракције када је задовољен Брагов закон (где је међупланарни размак, угао дифракције, ред дифракције и таласна дужина снопа електрона). За поликристалне материјале као што је челик, различита зрна имају различите кристалографске оријентације.
Оријентационо снимање: ЕБСД систем може да одреди кристалографску оријентацију сваког зрна примањем ових дифрактованих електрона. У скенирајућем електронском микроскопу (СЕМ), електронски сноп скенира тачку по тачку на површини узорка и добија узорке дифракције на свакој тачки скенирања. Ови обрасци дифракције садрже информације о оријентацији зрна и могу се обрадити софтвером за приказ оријентације зрна у облику слике, која се назива Ориентатион Имагинг Мап (ОИМ).
Основа за мерење величине зрна: На основу оријентацијске карте, границе зрна се могу одредити разликовањем зрна са различитим оријентацијама. Пошто је оријентација унутар сваког зрна у основи иста, и постоји разлика у оријентацији између суседних зрна, границе зрна се могу идентификовати постављањем одговарајућег прага разлике у оријентацији. Када се утврде границе зрна, може се израчунати величина зрна. На пример, геометријски параметри као што је еквивалентни кружни пречник зрна могу се измерити да би се окарактерисала величина зрна.

 

 

Подешавање параметара инструмента
Подешавање напона убрзања: У скенирајућем електронском микроскопу, одговарајући напон убрзања се поставља у складу са својствима и захтевима анализе узорка челика. Генерално, за челик, напон убрзања се може подесити између 15 - 30кВ. Одговарајући напон убрзања може осигурати да сноп електрона има довољно енергије да продре у површину узорка и произведе јасне дифракцијске обрасце.
Подешавање радне удаљености: Радна удаљеност се односи на растојање од електронског пиштоља до површине узорка и обично се подешава између 10 - 20 мм. Одговарајућа радна удаљеност може омогућити да електронски сноп буде добро фокусиран и погодан је за пријем добрих дифракцијских сигнала.
Избор корака скенирања: Корак скенирања је растојање између две суседне тачке скенирања када електронски сноп скенира површину узорка. За узорке челика са већим величинама зрна, корак скенирања се може подесити мало већи, као што је {{0}} μм; за узорке са мањим величинама зрна, корак скенирања треба да буде мањи, на пример, 0.1 - 1μм, да би се обезбедила тачна идентификација сваког зрна.
Дата Ацкуиситион
Инсталација узорка: Припремљени узорак се поставља на степен узорка скенирајућег електронског микроскопа, осигуравајући да је узорак чврсто фиксиран и да има добру електричну проводљивост.
Започни скенирање: Програм за скенирање је покренут и електронски сноп скенира тачку по тачку на површини узорка у складу са постављеним кораком скенирања. У свакој тачки скенирања, ЕБСД детектор прима дифрактиране електроне, претвара их у електричне сигнале, а затим их појачава и дигитализује да би снимио информације о дијафракционом узорку сваке тачке скенирања.

 

 

 

 

 

Спецификација коју испоручујемо:

Дебљина	3-200 мм
Ширина	1500-4000 мм
Дужина	5000-15000 мм

 

 

 

Обрада и анализа података
Индексирање узорка: Прикупљени подаци о узорку дифракције прво морају бити индексирани узорком, односно упоређивањем са стандардним узорцима дифракције у познатој кристалографској бази података да би се одредила кристалографска оријентација која одговара свакој тачки скенирања. Овај процес се завршава кроз наменски софтвер за анализу ЕБСД. Софтвер ће одговарати највероватније кристалографској оријентацији према положају и интензитету дифракционих тачака.
Реконструкција зрна: На основу информација о оријентацији тачака скенирања и постављеног прага разлике у оријентацији (обично, за челик, праг разлике у оријентацији је постављен између 10 - 15 степена), софтвер се користи за идентификацију граница зрна и поделе тачке скенирања са истим или сличним оријентацијама у једно зрно, чиме се реконструише облик зрна.
Прорачун величине зрна: Након што се зрна реконструишу, алати у софтверу се могу користити за израчунавање величине зрна. На пример, могу се израчунати параметри као што су површина и периметар сваког зрна, а затим се може израчунати еквивалентни кружни пречник и други индикатори који карактеришу величину зрна. Истовремено, може се извршити и статистичка анализа величине зрна, као што је израчунавање просечне величине зрна и дистрибуције величине зрна.

 

 

 

 

 

 

Поносимо се својом способношћу да обезбедимо прилагођена решења за јединствене потребе наших купаца.
Анализирамо и упоређујемо претходне производе и тренутну техничку ситуацију наше БВ ЕХ36 челичне плоче и развијамо нове техничке спецификације и процесе.
Наши клијенти нам верују да ћемо испоручити висококвалитетне производе од хладно ваљаног челика на време и према буџету.
Строго спроводимо топлу и промишљену постпродајну услугу, придржавамо се развоја добре професионалне етике.
Нудимо широк спектар производа од хладно ваљаног челика како бисмо задовољили различите потребе купаца.
Придржавамо се пословне филозофије оријентисане на купца и бренда, и настављамо да пружамо клијентима поуздане и одличне производе и услуге.
Наша фабрика је посвећена придржавању највиших стандарда безбедности и квалитета.
Сви запослени у нашој компанији и сви одељења раде заједно на комбиновању пословног менаџмента, професионалне технологије, квантитативних статистичких метода и идеолошког образовања.
Наши производи од хладно ваљаног челика су познати по својој издржљивости и поузданости.
Ослањајући се на врхунске услове и снажне предности масовне производње, у могућности смо да задовољимо различите потребе наших купаца.

Popularne oznake: бв ех36 челична плоча, Кина бв ех36 челична плоча добављачи, фабрика